示波器產(chǎn)品及廠家
pcie rx 物理層一致性測試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測試時，有一些注意事項需要考慮:1. 測試設(shè)備;2. 測試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報文;4. 測試工具和軟件;5. 測試范圍和時長;6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測試報告.總之，進(jìn)行 pcie rx 一致性測試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測試流程，以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時間:2025-05-17
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pcie2.0 3.0 4.0 硬件測試解決方案pcie memap空間讀寫異常問題：pcie可以正常讀寫配置空間，但無法正常讀寫memap 空間
更新時間:2025-05-17
pcie2.0x16 眼圖測試 物理層致性測試傳統(tǒng)的源同步時鐘總線系統(tǒng)般多采用并行單端信號，典型幅度在從 ttl-5v,cmos- 3.3v/1.8v 左右。在設(shè)計和測試上遇到的信號完整性問題主要是反射和串?dāng)_，經(jīng)常強(qiáng)調(diào)如何有效利用示波器的觸發(fā)功能進(jìn)行定位和捕獲并分析,對示波器的波形捕獲率及毛刺觸發(fā)和建立/保持觸發(fā)等能力均有很高要求。
更新時間:2025-05-17
pcie屬于高速串行點(diǎn)對點(diǎn)雙通道高帶寬傳輸，所連接的設(shè)備分配獨(dú)享通道帶寬，不共享總線帶寬，主要支持主動電源管理，錯誤報告，端對端的可靠性傳輸，熱插拔以及服務(wù)質(zhì)量(qos)等功能。pcie交由pci-sig（pci特殊興趣組織）認(rèn)證發(fā)布后才改名為“pci-express”，簡稱“pci-e”。它的主要優(yōu)勢就是數(shù)據(jù)傳輸速率高，而且還有相當(dāng)大的發(fā)展?jié)摿Αcie2.03.0測試
更新時間:2025-05-17
工程師在調(diào)試各式各樣的板子時，常會出現(xiàn)開機(jī)錯誤，系統(tǒng)無法正常打開，接下來我們將列舉上電可能引發(fā)的一些常見系統(tǒng)問題，并說明了保證電路板正確初始化的基本原則。
更新時間:2025-05-17
dp接口一致性檢測，dp1.4，dp1.2dp接口一致性檢測，dp1.4，dp1.2dp接口一致性檢測，dp1.4，dp1.2dp接口一致性檢測，dp1.4，dp1.2
更新時間:2025-05-17
泰克tektronix混合信號示波器dpo3054(500mhz 4ch) 信號示波器 泰克信號示波器 硬件開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-05-17
rj45網(wǎng)線信號完整性測試是確保網(wǎng)線在傳輸數(shù)據(jù)時信號質(zhì)量達(dá)標(biāo)的重要步驟。這種測試通常使用網(wǎng)線測試儀（如fluke networks的dsx系列）來完成。
更新時間:2025-05-17
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高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-17
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芯片驗證測試 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-17
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-17
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