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馬歇爾電動擊實儀(大、小馬)落地式馬歇爾電動擊實儀 重錘式馬歇爾電動擊實儀出租
本儀器是根據(jù)中華人民共和國行業(yè)標準jtj052《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗規(guī)程》中的t0702《瀝青混合料試件制作方法（擊實法）》所規(guī)定的要求設計制造的，本儀器制作的試件符合jtj052試驗規(guī)程中t0709《瀝青混合料馬歇爾穩(wěn)定度試驗》標準提出的對試件的要求，是瀝青混合料馬歇爾試驗中試件成型的用設備。
更新時間:2025-05-13
交直流高壓棒 高壓測試棒出租
產品特色：■低價位1000比1交直流兩用高壓衰減棒！龃罅繙y電壓：dc±40kv, ac±28kv (50/60hz only)■輸入阻抗高達1000mω！鰐uv gs, ul等，安規(guī)檢驗40kv, ca ⅱ合格。■請指定使用輸入阻抗10mω的電表配合。
更新時間:2025-05-13
鋁棒溫度計 便攜式鋁棒溫度計 表面溫度計出租
本儀器由溫度顯示表和雙針式k型熱電偶探頭組成。用于測量導電金屬材料的表面溫度。 儀器主要應用于鋁加工行業(yè)，配置于鋁棒加熱爐旁，用于檢測加熱后的鋁棒溫度。
更新時間:2025-05-13
鋁液溫度計 便攜式鋁液溫度計出租
便攜式鋁液溫度計應用于鋁加工行業(yè)，用于在熔煉過程中測量鋁液溫度。儀器由溫度表、熱電偶和熱電偶保護管組成。保護管極耐鋁水腐蝕，將其安裝在熱電偶前端，可保護熱電偶，延長熱電偶的使用壽命。鋁液對般金屬的腐蝕性都很強，普通的測溫熱電偶在鋁液中會很快被腐蝕掉，壽命很短。本儀器是測量鋁液溫度的用儀器，使用壽命較長。技術參數(shù)：
更新時間:2025-05-13
微熱源測溫儀 微機熱源測溫儀 測溫儀出租
wry-c型微機熱原測溫儀用于注射用藥的熱原檢查和解熱藥的藥理研究，以及用于觀察藥物對動物家兔體溫的影響等，它是檢驗針劑質量和研究藥物藥理的用檢測儀器，它采用電腦控制，按《中國藥典2010版》所規(guī)定的標準而設計的，熱原檢測應用系統(tǒng)軟件，能進行熱原測試，新兔挑選，打印測試報告和磁盤存。ㄜ洷P移動硬盤）等，均具有漢字顯示功能，直觀、清晰。
更新時間:2025-05-13
經(jīng)濟型噪音計 分貝計 音平計出租
手持式儀表l 國際規(guī)范,iec 651 type iil 瞬時值測量方式l 范圍：40～130db l 迷你型設計，美觀大方l 大/小值鎖定，讀值鎖定l 手動換檔
更新時間:2025-05-13
數(shù)字式噪音計 分貝計 音平計出租
產品特點： 測試量程：32~130db。 迷你體積。 低價格又有高性能。 大/小功能。 解析度0.1db。 電平量程顯示。
更新時間:2025-05-13
北信牌 偉福V8/l仿真器出租
多種仿真技術(/l/t/s)：綜合采用多種新的仿真技術，從而可以仿真各種8/16/32位mcu，仿真的芯片達到數(shù)千種。 通用仿真器(/l/t/s)：配置不同的仿真頭，可以仿真多種單片機，功能強大，性能可靠，為將來發(fā)展留有空間 仿真頻率極高(/l/t/s)：全新仿真頭設計結構，高仿真頻率高達50mhz
更新時間:2025-05-13
北信牌 電機驅動模塊出租
本模塊用于電機控制系統(tǒng)的驅動電路，可與mcu模塊直接連接。
更新時間:2025-05-13
北信牌 并行總線單片機出租
本實驗模塊適用與fpga 模塊（esdm-0301）配合，構成各高速電子系統(tǒng)。如高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、dds任意信號發(fā)生器、簡易存儲示波器、簡易邏輯分析儀、can現(xiàn)場總線控制系統(tǒng)等。
更新時間:2025-05-13
六氟化硫密度繼電器校驗儀出租
l 環(huán)境溫度：－20℃～60℃。l 相對溫度：不大于93％（25℃）。l 工作電源：ac220v±15％，50hz，或機內電池。l 精 度：0.20級。l 顯示方式：320*240彩色漢字液晶屏。l 打印方式：針式微打。l 測量壓力范圍：0～1.0mpa
更新時間:2025-05-13
異頻介損測試儀、異頻介質損耗測試儀出租
變頻抗干擾介質損耗測試儀用于現(xiàn)場抗干擾介損測量，或試驗室精密介損測量。儀器為體化結構，內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術，全自動智能化測量，強干擾下測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。測量結果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出。
更新時間:2025-05-13
4相電壓3相電流輸出微機保護測試儀出租
標準的4相電壓3相電流輸出 具有4相電壓3相電流輸出，可方便地進行各種組合輸出進行各種類型保護試驗。每相電壓可輸出120v，電流三并可輸出120a，第4相電壓ux為多功能電壓項，可設為4種3u0或檢同期電壓，或任意某電壓值的情況輸出。
更新時間:2025-05-13
多路電阻測試儀 奮樂廠家直銷
1、flh5000多路電阻測試儀是新型多路電阻測試儀應用于電子器件、電機繞組、接插件、開關、導體、點火器等元器件的測量。2、多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)軟件采集溫度數(shù)據(jù)，記錄測試數(shù)據(jù)，繪制電阻曲線
更新時間:2025-05-13
電阻測試儀 智能電阻測量儀 奮樂廠家直銷
1、智能化、寬范圍、高精密的直流電阻測試儀器2、電熱材料，變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開關、接插件接觸電阻、導線電阻、元件焊點接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷3、用于生產線，可使用handler接口輸出良品/不良品信號，以提高生產線自動化測試能力
更新時間:2025-05-13
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-05-13
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-13
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網(wǎng)絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中，數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經(jīng)過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-05-13
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-13
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-13
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-05-13
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-05-13
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-05-13
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-05-13
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-05-13
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調性。
更新時間:2025-05-13
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-05-13
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-05-13
梅特勒電極（有問題，產品上留有碎渣）
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-05-13
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-05-13
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-05-13
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-05-13
EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-05-13
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-05-13
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-05-13
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-05-13
EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-05-13
EMMC5 復位測試 CLK測試
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-05-13
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-05-13
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關產品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-05-13
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-05-13
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-05-13
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-05-13
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-05-13
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-05-13
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-05-13
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-05-13
復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-05-13
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-05-13
ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-05-13

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