采用由固體三電測(cè)量方法,測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的用的高溫測(cè)試系統(tǒng),滿足固體絕緣材料因溫度變化對(duì)電阻值變 化的測(cè)量要求,可以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化 的曲線。目主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于其它結(jié)構(gòu)型高分子絕緣材料、復(fù)合絕緣材料等材料的電阻率 測(cè)量
更新時(shí)間:2025-05-09