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金相顯微鏡產(chǎn)品及廠家

BM-53XCC金相顯微鏡

bm-53xcc金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

更新時(shí)間:2025-05-14

該公司產(chǎn)品分類：上海皆準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司

BM-53XCS正置金相顯微鏡

bm-53xcs金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-53XCV正置金相顯微鏡

bm-53xcv金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-54XA工業(yè)金相顯微鏡

bm-54xa金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-54XAC工業(yè)金相顯微鏡

bm-54xac金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-54XAS三目金相顯微鏡

bm-54xas金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-54XAV三目金相顯微鏡

bm-54xav金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-2525J金相顯微鏡

bm-2525j金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-XDA攜帶型金相顯微鏡

bm-xda金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-XDB金相顯微鏡

bm-xdb金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-XDC便攜式金相顯微鏡

bm-xdc金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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BM-SG20BD金相顯微鏡

bm-sg20bd金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究，原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器，是科研教學(xué)、工廠等理想儀器。

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20型小型體視顯微鏡

20型體視顯微鏡又稱“實(shí)體顯微鏡”或“解剖鏡”，是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、農(nóng)林、工業(yè)及海洋生物各部門。

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RX-200金相工具顯微鏡

rx-200金相工具顯微鏡：該儀器適用于led液晶、導(dǎo)電粒子彩色濾光片、手機(jī)屏幕、fpd模組半導(dǎo)體晶圖片、fpc-pcb、ic封裝光盤cd、圖像傳感器、ccd、cmos、pda光源等需要金相觀察及精確測(cè)量行業(yè)。

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LWD200-4XC倒置金相顯微鏡

lwd200-4xc金相顯微鏡適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研等機(jī)構(gòu)作材料的表面組織結(jié)構(gòu)觀察和機(jī)械狀態(tài)檢測(cè)之用。

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lwd200-4t倒置金相顯微鏡利用光學(xué)平面成像的方法，對(duì)各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行鑒別和分析，是金屬物理研究金相的重要工具，可廣泛地應(yīng)用于工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量、原材料檢驗(yàn)，或工藝處理后材料金相組織的研究分析工作，從而提供直觀的分析結(jié)果，是礦山、冶金、制造、機(jī)械加工業(yè)中鑄造、冶煉、熱處理質(zhì)量鑒定分析的關(guān)鍵設(shè)備。

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LWD200-4XB倒置金相顯微鏡

倒置型lwd200-4xb金相顯微鏡適用于金相學(xué)、冶金學(xué)專業(yè)實(shí)驗(yàn)室的研究。并廣泛應(yīng)用于集成電路ic行業(yè)、電子半導(dǎo)體業(yè)。也可用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)，可廣泛地應(yīng)用在工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定，原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嗟难芯糠治龅裙ぷ�。本儀器可配用攝影裝置進(jìn)行顯微攝影。

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LW200-3JT正置金相顯微鏡

lw200-3jt正置金相顯微鏡是用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機(jī)構(gòu)作金相、巖相、礦相等材料表面組織結(jié)構(gòu)的薄片觀察檢測(cè)。也可用于電子，冶金、化工和儀器表行業(yè)用于觀察透明、半透明或不透明的物質(zhì)，如金屬陶瓷、電子陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料，也適合醫(yī)藥、農(nóng)林、公安、學(xué)校、科研部門作觀察分析用。。

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BJ-X便攜式金相顯微鏡

bj-x型便攜式金相顯微鏡是可方便的用于現(xiàn)場(chǎng)材料無(wú)法制作試樣時(shí)需鑒別的各種金屬與合金的組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)鑒定，可廣泛的應(yīng)用于工廠金相試驗(yàn)室進(jìn)行金屬材料的分析研究與鑒定，及對(duì)材料處理后的金相組織結(jié)構(gòu)的分析工作。也可用于玉器、陶瓷、青銅器表面組織結(jié)構(gòu)的觀察分析。

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LW200-4JGT正置金相顯微鏡

lw200-4jgt正置金相顯微鏡除了對(duì)20~30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。如金屬陶瓷，電子芯片，印刷電路，lco基板，薄膜，纖維，顆粒狀物體，鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)，痕跡，都有很好的成像效果。

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LW200-4JB正置金相顯微鏡

lw200-4jb正置金相顯微鏡除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習(xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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LW200-4JFT正置金相顯微鏡

lw200-4jft金相顯微鏡更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。另外外置攝相系統(tǒng)可以方便的連接視屏和計(jì)算機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)和靜動(dòng)態(tài)的圖像觀察、保存和編輯、打印結(jié)合各種軟件能進(jìn)行更專業(yè)的金相、測(cè)量、互動(dòng)教學(xué)領(lǐng)域的需要。

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LW300JB正置金相顯微鏡

正置金相顯微鏡lw300jb廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。觀察目標(biāo)：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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LWD200-4CS倒置金相顯微鏡

數(shù)碼倒置金相顯微鏡lwd200-4cs主要適用于各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進(jìn)行研究分析工作，是金屬學(xué)研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整。因此工廠、實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、院校教學(xué)等普遍選用。其他行業(yè)比如電子產(chǎn)品、薄膜、鍍層采用冷鑲嵌材料做成試樣后直接倒置于工作臺(tái)上，透明材料也能方便地進(jìn)行觀察。

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LW200-4JT正置金相顯微鏡

正置金相顯微鏡lw200-4jt 除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習(xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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LW200-4JFB正置金相顯微鏡

lw200-4jfb金相顯微鏡更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。另外外置攝相系統(tǒng)可以方便的連接視屏和計(jì)算機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)和靜動(dòng)態(tài)的圖像觀察、保存和編輯、打印結(jié)合各種軟件能進(jìn)行更專業(yè)的金相、測(cè)量、互動(dòng)教學(xué)領(lǐng)域的需要。

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LWD200-4XI倒置金相顯微鏡

金相顯微鏡lwd200-4xi適用于金相學(xué)、冶金學(xué)專業(yè)實(shí)驗(yàn)室的研究。并廣泛應(yīng)用于集成電路ic行業(yè)、電子半導(dǎo)體業(yè)。

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LWD200-4C倒置金相顯微鏡

倒置金相顯微鏡lwd200-4c主要適用對(duì)各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進(jìn)行研究分析工作，是金屬學(xué)研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整。因此工廠實(shí)驗(yàn)室，科研機(jī)構(gòu)院校教學(xué)普遍選用。其他行業(yè)比如電子產(chǎn)品、薄膜、鍍層采用冷鑲嵌材料做成試樣后直接倒置于工作臺(tái)上，由于材料透明也能方便地進(jìn)行觀察。

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LW300JT正置金相顯微鏡

正置金相顯微鏡lw300jt廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。觀察目標(biāo)：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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LW200-2JB正置金相顯微鏡

正置金相顯微鏡lw200-2jb具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習(xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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TMBL-1便攜式金相顯微鏡

tmbl-1便攜式金相顯微鏡適用于現(xiàn)場(chǎng)多種大型工件的金相檢查，失效分析的顯微鏡,它不用切割取樣，直接在工件上打磨、拋光，從而保證工件的完整性. 顯微鏡底座帶有磁力吸座，直接吸附在工件上觀察組織的現(xiàn)場(chǎng)金相檢驗(yàn).

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TMV2030A/B系列透反射正置金相顯微鏡

tmv2030a/b系列透反射正置金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體或透明物體的顯微觀察。

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TMV2020A/B透反射（雙色）正置金相顯微鏡

tmv2020a/b透反射（雙色）正置金相顯微鏡適用于工礦企業(yè),高等院校及科研等機(jī)構(gòu)作材料內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)觀察。

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TMV3003A正置金相顯微鏡

tmv3003a正置金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體的進(jìn)行顯微觀察

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TMV3030A透反射金相顯微鏡

tmv3030a透反射金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體或透明物體的顯微觀察。

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TMV3230A透反射金相顯微鏡

tmv3230a透反射金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體或透明物體的顯微觀察。

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TMV3230BD正置明暗視場(chǎng)透反射金相顯微鏡

tmv3230bd正置明暗視場(chǎng)透反射金相顯微鏡是一種多用途工業(yè)檢驗(yàn)用光學(xué)儀器，配置明/暗場(chǎng)物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統(tǒng)，視場(chǎng)清晰。

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TMV302/302BD正置金相顯微鏡

tmv302/302bd正置金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體的顯微觀察。

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TMV3230 DIC微分干涉相襯顯微鏡

tmv3230 dic微分干涉相襯顯微鏡適用于對(duì)多種物體的顯微觀察。

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TMV302DIC微分干涉相襯顯微鏡

tmv302dic微分干涉相襯顯微鏡適用于對(duì)多種物體的顯微觀察。

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TMV100/BD工業(yè)檢測(cè)顯微鏡

tmv100/bd工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。

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CX40M正置金相顯微鏡圖像分析顯微鏡電腦顯微鏡金相分析顯微鏡

cx40m整合了舜宇銷量機(jī)型的多項(xiàng)技術(shù)優(yōu)勢(shì)，并根據(jù)市場(chǎng)需求重新優(yōu)化配置整體性能，以優(yōu)異的成像性能，舒適的操作體驗(yàn)，為客戶提供高性價(jià)比的金相分析及工業(yè)檢測(cè)解決方案。

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皆準(zhǔn) L3230 L3203 L3220 3230BD 正置金相顯微鏡

l3230/l3203/l3220/l3230bd正置透反射顯微鏡適用于對(duì)不透明物體或透明物體的顯微觀察。采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可提供卓越的光學(xué)性能與產(chǎn)品系統(tǒng)升級(jí)，實(shí)現(xiàn)透反射同步或獨(dú)立照明，偏光觀察，暗場(chǎng)觀察等功能，產(chǎn)品具有造型美觀，操作方便，圖像清晰等特點(diǎn)，是生物學(xué)，礦物學(xué)，精密工程學(xué)，電子學(xué)等研究的理想儀器。

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皆準(zhǔn) MX4R 正置金相顯微鏡工業(yè)檢測(cè)級(jí)顯微鏡

mx4r正置金相顯微鏡大行程移動(dòng)工作平臺(tái)，長(zhǎng)工作距半復(fù)消色差物鏡，圖像銳利清晰，廣泛應(yīng)用于晶圓、fpd等各項(xiàng)工業(yè)檢測(cè)。

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MX6R 正置金相顯微鏡工業(yè)顯微鏡 5X、10X、20X、50X、100X

mx6r各項(xiàng)操作根據(jù)人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，最大限度減輕操作者的使用疲勞。其模塊化的部件設(shè)計(jì)，可對(duì)系統(tǒng)功能進(jìn)行自由組合。涵蓋明場(chǎng)、暗場(chǎng)、斜照明、偏光、dic微分干涉等多種觀察功能，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，進(jìn)行功能選擇。

更新時(shí)間:2025-05-14

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MX12R半導(dǎo)體FPD 檢查顯微鏡金相工業(yè)顯微鏡 5X 10X 20X 50X 100X

全新的mx12r半導(dǎo)體 \fpd 檢查顯微鏡，最大支持 300mm 晶圓及 17英寸液晶面板的檢查，含 4、6、8、12英寸多種轉(zhuǎn)盤，可適用不同尺寸的晶圓檢查。人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)全面提升，為用戶提供更加舒適、靈活、快捷的操作體驗(yàn)。

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皆準(zhǔn) RX50M 研究級(jí)金相顯微鏡工業(yè)檢測(cè)分析顯微鏡科研用顯微鏡

全新rx50m 研究級(jí)金相顯微鏡集舜宇多項(xiàng)首創(chuàng)于一身，從外觀到性能都緊跟國(guó)際領(lǐng)先設(shè)計(jì)風(fēng)向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域全新格局。rx50m 秉承舜宇不斷探索不斷超越的品牌設(shè)計(jì)理念，為客戶提供完善的工業(yè)檢測(cè)解決方案。

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皆準(zhǔn)ICM-1000系列大型工業(yè)檢測(cè)顯微正置金相顯微鏡白光LED明視場(chǎng)

新型的icm-1000系列工業(yè)檢測(cè)顯微鏡是為工程領(lǐng)域精準(zhǔn)測(cè)量的迫切需要而進(jìn)行的專業(yè)創(chuàng)制，產(chǎn)品能提供更多的系統(tǒng)功能選擇與更高的操作性能，包括明視場(chǎng)、暗視場(chǎng)、偏振光、微分干涉相襯、工業(yè)熒光等顯微觀察模式，可配置手動(dòng)或自動(dòng)透反射工作平臺(tái)與精密光柵數(shù)顯影像檢測(cè)系統(tǒng)，能夠滿足不同用戶對(duì)新型檢測(cè)能力的不斷追求。

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ICM-100/100BD 正置金相顯微鏡工業(yè)檢測(cè)顯微鏡

cm-100/100bd工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場(chǎng)觀察等功能，導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測(cè)。機(jī)械移動(dòng)式載物平臺(tái)可有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機(jī)構(gòu)采用圓柱滾子導(dǎo)向傳動(dòng)，機(jī)構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)。

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皆準(zhǔn)儀器 ICM-100DIC 正置金相顯微鏡工業(yè)檢測(cè)顯微鏡

icm-100dic工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏光觀察, dic觀察等功能，導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測(cè)。機(jī)械移動(dòng)式載物平臺(tái)有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機(jī)構(gòu)采用圓柱滾子導(dǎo)向傳動(dòng)，機(jī)構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)。

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