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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

線纜檢測測量投影儀，工件輪廓測量投影儀，線纜投影儀的參數(shù)

線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護套檢測投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。

更新時間:2025-07-04

該公司產(chǎn)品分類：上海雋思實驗儀器有限公司

絕緣護套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀

絕緣護套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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電線電纜測量投影儀輪廓測量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價電纜外被測量投影儀

輪廓測量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價電纜外被測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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影像測量儀，二次元影像測量儀，二次元測量儀

影像測量儀，二次元影像測量儀，二次元測量儀主要是彌補了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機將待測物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測量軟件，便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。

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線纜絕緣層測量投影儀哪家好，輪廓測量投影儀的價格，絕緣護套檢測投影儀多少錢

線纜絕緣層測量投影儀哪家好，輪廓測量投影儀的價格，絕緣護套檢測投影儀多少錢被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。

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輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀

輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀

低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。

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電線電纜測量投影儀，絕緣護套測量儀

電線電纜測量投影儀，絕緣護套測量儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器，適用于以二坐標測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護套材料通用方法》標準要求。

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線纜截面測試投影儀，線纜絕緣護套測試儀，線纜檢測投影儀

數(shù)碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預(yù)置和構(gòu)造2）座標擺正和座標平移，方便擺正工件，減少調(diào)整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打�。�5）多種座標顯示方式，極座標和直角座標、inc座標和abs座標公制和英制6）對光柵尺可進行線性補償或區(qū)段線性補償7）z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器

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SV-1A日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）

日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.

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F20，F(xiàn)30，F(xiàn)40，F(xiàn)50，F(xiàn)60，F(xiàn)3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)

美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)

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ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡

美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.

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FTIR德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀

德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。

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Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀

德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。

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ContoruGT德Bruker光學(xué)輪廓儀

德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀

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ALD德國Sentech 實時監(jiān)測儀

sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。

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Zip 250美國OGP光學(xué)式坐標測量儀

美國ogp光學(xué)式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。

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JY—PHa接觸角測定儀

jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標。

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100標準型接觸角測量儀

100標準型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實性，獲取最佳的成像效果。

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HypotMAX 7710美Associated 耐壓測試儀

美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。

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美Montana超精細多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器

montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。

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attoCSFM德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡

德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。

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WCT-120，Suns-Voc美國sinton少子壽命測試儀

sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨特的測量和分析技術(shù)，包括準穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法�？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。

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TESA 2000美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀

美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計，便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div> 更新時間:2025-07-04

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KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計數(shù)器

日本rion氣體粒子計數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）

更新時間:2025-07-04

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KS-16,KS-16F日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm

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KS-17B日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）

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KS-19F日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。

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KC-24日本RION粒子計數(shù)器

日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體�？蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24

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KS-41A日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm

更新時間:2025-07-04

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KS-18F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子

更新時間:2025-07-04

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KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。

更新時間:2025-07-04

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KS-42B,KS-42BF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。

更新時間:2025-07-04

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KS-42C日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。

更新時間:2025-07-04

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KS-20F日本理音RION粒子計數(shù)器

日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達7個通道

更新時間:2025-07-04

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KC-01E日本理音RION粒子計數(shù)器

日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm

更新時間:2025-07-04

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KC-03B日本理音RION粒子計數(shù)器

日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm

更新時間:2025-07-04

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德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀

fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實驗室設(shè)計，用于快速、準確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進行反射率和/或透射率測量。

更新時間:2025-07-04

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德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀

fr-pro 膜厚測量儀用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的涂層的模塊化和可擴展平臺。

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德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪

fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具，全自動測繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準確地測量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。

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Contour X布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀

布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要

更新時間:2025-07-04

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Contour X-200布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀

布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備

更新時間:2025-07-04

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DektakXT布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀

布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。

更新時間:2025-07-04

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KS-41B日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。

更新時間:2025-07-04

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KS-19F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀

日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。

更新時間:2025-07-04

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FTPadv臺式薄膜探針反射儀

ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非�？焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。

更新時間:2025-07-04

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FTPadv Expert綜合薄膜測量軟件

ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。

更新時間:2025-07-04

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MDPinline光伏測量儀器

mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設(shè)計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。

更新時間:2025-07-04

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MDPinline ingot光伏測量儀器

mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動，以便測量所有的四個側(cè)面。

更新時間:2025-07-04

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