MicroContⅡ表面污染監(jiān)測(cè)儀 芬蘭RADOS品牌代理 現(xiàn)貨特價(jià)供應(yīng)
MicroCont Ⅱ表面污染監(jiān)測(cè)儀是一種測(cè)量α、β或β、γ污染的便攜式測(cè)量儀，可對(duì)大面積的表面、地板和個(gè)人污染進(jìn)行監(jiān)測(cè)。使用方便，顯示CPS、Bq或Bq/cm2，自動(dòng)本底補(bǔ)償？赏ㄟ^PC機(jī)和相關(guān)軟件設(shè)置所有的參數(shù)，最多貯存500個(gè)測(cè)量結(jié)果，并能以Excel格式輸出。
MicroContⅡ使用密閉氙探測(cè)器或使用大面積流氣式探測(cè)器進(jìn)行操作
RXE大面積氙探測(cè)器
密閉式正比探測(cè)器用于β和γ的污染測(cè)量
需無氣體供給
應(yīng)用于核醫(yī)學(xué)中，對(duì)核素有高的效率因子
大探測(cè)面積（233cm2）
5mg/cm2的圖形鈦箔可以快速定位污染，可以在-10℃下使用
RGZ大面積流氣式探測(cè)器
一體式氣體供應(yīng)（75cm3）
通過按鈕操作，實(shí)現(xiàn)氣體沖洗
可從儲(chǔ)存瓶里重新灌入丁烷－丙烷液體
涂鋁聚酯薄膜片0.7mg/cm2，容易更換
探測(cè)器類型：
RXE充氙氣密閉式正比計(jì)數(shù)管，β/γ探測(cè)器，有效探測(cè)面積232cm2
RGZ流氣式正比計(jì)數(shù)管，α/β探測(cè)器，有效探測(cè)面積177cm2
RBP塑料閃爍體，α/β探測(cè)器，有效探測(cè)面積176cm2
RPD塑料閃爍體，β/γ探測(cè)器，有效探測(cè)面積176cm2
儀器指標(biāo)：
電源：3節(jié)標(biāo)準(zhǔn)堿性電池，200小時(shí)操作周期或外接電源3~5V或230V/50Hz
報(bào)警功能：每種測(cè)量模式（cps、cps net、Bq、Bq/cm2 ）的報(bào)警值在整個(gè)范圍內(nèi)可調(diào)，報(bào)警時(shí)在LCD上顯示，并有聲音報(bào)警。通過檢測(cè)鍵顯示選擇的報(bào)警閾值。
外殼：防撞ABS材料制成的緊湊外殼，防水（IP63），表面易去污，黃色，手持一體式ON/OFF按鈕
重量：
流氣式約2100g
氙探測(cè)式約1950g
操作溫度范圍
RXE探測(cè)器：-10至+50℃
RGZ探測(cè)器： 0至+50℃
最大90濕度
ACL-385表面阻抗表
技術(shù)參數(shù) 測(cè)量范圍： 流動(dòng)電壓 -2,000…….+2,000 mV 流動(dòng)電流 -200………+200 uA 測(cè)量單元電阻 5 ……20 M 測(cè)量壓力 -1000…….+1000 mbar PH 值 PH 2………PH 12 電導(dǎo)率 1………….1000 ms/ m 溫度 10…………40 ℃ 流速 最大 500 mL/ min 樣品尺寸： 夾片測(cè)量單元 最小 55mm × 25 mm 柱狀測(cè)量單元 粒徑 ＞ 25um 電源： AC 100…..240 V, 50……60 HZ, 200VA 尺寸與重量：儀器尺寸 540 mm×430 mm×593 mm (D×W×H) 基座尺寸 640 mm×630 mm(D×W) 高度 910 mm（操作時(shí)需要的空間高度） | ||
主要特點(diǎn) 測(cè)量原理 ： 在電化學(xué)雙電流層的模型中，電荷分布形成固定層與可移動(dòng)層。滑動(dòng)層將這兩層彼此分離。 ZETA 電位指定為在滑動(dòng)層上固體表面與液相之間電勢(shì)的衰減。電解質(zhì)流動(dòng)的外部力平行應(yīng)用于固體與液體界面導(dǎo)致固定層與可移動(dòng)層之間相對(duì)運(yùn)動(dòng)與電荷分離，由此得出實(shí)驗(yàn)的ZETA 電位。 流動(dòng)電勢(shì)的大小由液相的流動(dòng)壓差P決定。ZETA 電位即可定義為固體表面的固定層電荷與離子移動(dòng)層之間的電勢(shì)，相應(yīng)的流動(dòng)電勢(shì)系數(shù)為dU/dP， ZETA 電位表示為： dU = ____ × /(×。) ×K dP 固體表面特性， 粘性，×。雙電系數(shù) ，液相電解質(zhì)電導(dǎo)率K 都決定ZETA 電位的大小。得出ZETA 電位值時(shí)，需要說明電解質(zhì)溶液的類型，濃度，PH值。 稀釋的電解質(zhì)循環(huán)流經(jīng)裝有樣品的測(cè)量池，由此產(chǎn)生一個(gè)壓差，其電荷在電化學(xué)雙電層中相對(duì)運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生并增加流動(dòng)電壓，這個(gè)流動(dòng)電壓/ 流動(dòng)電流（可選擇）由置于樣品兩邊的電極檢測(cè)。SurPASS可同時(shí)測(cè)量出電解質(zhì)的電導(dǎo)率，溫度及PH值。 | ||
儀器名稱：ZETA電位分析儀 研究對(duì)象：纖維、薄膜、粉末、粒子、固體金屬或非金屬片等材料。 主要用途：測(cè)量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。 主要應(yīng)用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脫附等 材料組成 材料親水性與疏水性 材料潔凈處理等 表面活性劑相互作用 SurPASS 固體電運(yùn)動(dòng)分析儀/ 固體表面ZETA 電位儀幫助科研人員在化學(xué)與材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特性，設(shè)計(jì)新型、特定性質(zhì)的材料，如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。 通過測(cè)量宏觀固體物表面的流動(dòng)電流或流動(dòng)電壓（電勢(shì)），SurPASS 固體電運(yùn)動(dòng)分析儀給出了ZETA 電位這樣一個(gè)重要的信息。 ZETA 電位是一種界面特性，這對(duì)于理解固體材料在很多工藝技術(shù)處理方面非常重要。ZETA 電位給出了固體表面電荷、吸附性質(zhì)等的信息。 SurPASS 固體電運(yùn)動(dòng)分析儀/ 固體表面ZETA 電位儀拓展豐富了表界面分析知識(shí)。 SurPASS 固體電運(yùn)動(dòng)分析儀/ 固體表面ZETA 電位儀對(duì)不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。 | ||
測(cè)定比表面積的方法繁多，如鄧錫克隆發(fā)射法、大分子吸附法、電子顯微鏡測(cè)定法、著色強(qiáng)度法、氮吸附測(cè)定法等。其中氮吸附法是最經(jīng)典、最、最的方法，目前美國ASTM已將該法列在D3037內(nèi)，國際標(biāo)準(zhǔn)ISO-4652已把它列為測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，我國已把該方法在2003年列為國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3778-2003。
本儀器根據(jù)BET氮吸附原理設(shè)計(jì)，采用計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，測(cè)量速度快、精度高，能廣泛用于炭黑、白炭黑、電池材料及納米材料等粉體材料的比表面積測(cè)定.
工作原理
測(cè)試物質(zhì)比表面積時(shí)，將已知比表面積的標(biāo)準(zhǔn)樣品及待測(cè)樣品裝入樣品管中，通入氮氦混氣，當(dāng)樣品管浸入液氮時(shí)，混合氣體中的氮?dú)獗粯悠匪讲⑦_(dá)飽和，樣品吸附氮的多少與其比表面積有定量關(guān)系，隨后對(duì)樣品升溫，吸附的氮?dú)獗唤馕。氮(dú)夂康淖兓蔁釋?dǎo)池轉(zhuǎn)換為電位變化，計(jì)算機(jī)采集熱導(dǎo)池電位變化后，繪出解吸附曲線，對(duì)曲線積分得到解吸峰面積。通過下述公式就可計(jì)算出待測(cè)樣品的比表面積：
儀器特點(diǎn)
3%
6
數(shù)顯表面洛氏硬度計(jì)HRMS-45
| 表面洛氏標(biāo)尺 | HR15N, HR30N, HR45N, HR15T, HR30T, HR45T |
| 初試驗(yàn)力 | 3Kg （29.42N） |
| 試驗(yàn)力 | 15Kg （147.1N）, 30Kg （294.2N）, 45Kg （441.3N） |
| 轉(zhuǎn)換標(biāo)尺 | 洛氏、布氏、維氏 |
| 硬度讀取 | 大屏幕數(shù)字顯示 |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 內(nèi)置打印機(jī)和RS-232接口 |
| 保荷時(shí)間 | 0~60S |
| 試件最大高度 | 170mm |
| 儀器尺寸 | 520×240×720mm （長×寬×高） |
| 儀器重量 | 約80kg |
| 電源 | AC220V±5%，50~60Hz |
| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T230.2國家標(biāo)準(zhǔn) JJG112檢定規(guī)程 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配件 附件 | 金剛石洛氏壓頭，直經(jīng)1.5875mm硬質(zhì)合金球壓頭，大平試臺(tái)、中平試臺(tái)、“V”型試臺(tái)，硬度塊，RS-232通訊線，電源線 |
買儀器，認(rèn)準(zhǔn)中諾儀器！中諾儀器有限公司，憑借雄厚的實(shí)力，精湛的技術(shù)代理了瑞典VMI振動(dòng)分析儀、時(shí)代龍城現(xiàn)場(chǎng)動(dòng)平衡儀、北京伊麥特現(xiàn)場(chǎng)動(dòng)平衡儀、日本理音振動(dòng)分析儀、北京時(shí)代動(dòng)平衡儀、瑞典SKF振動(dòng)分析儀，解決各類設(shè)備的不平衡問題，快捷方便。
聯(lián)系人：陳云 移動(dòng)電話：18652385935
一、表面鉑電阻概述：
JK-WZPM系列表面鉑電阻是按上述工藝要求設(shè)計(jì)的最新產(chǎn)品，與XMX型袖珍溫度數(shù)字顯示儀配套使用，被廣泛應(yīng)用在紡織、印染、造紙、塑料、橡膠等工業(yè)部門。JK-WZPM系列表面鉑電阻分手柄式、直柄式和固定式三種。有二種形狀的測(cè)溫手柄供配套選用，可根據(jù)被測(cè)物體的不同形狀和需要，分別選擇。配套儀表XMX型袖珍溫度數(shù)字顯示儀，外形輕巧，攜帶方便，特別是加工現(xiàn)場(chǎng)尤為適用。鉑電阻測(cè)溫頭采用薄膜鉑電阻元件制成，因此具有精確、靈敏、熱響應(yīng)時(shí)間快、質(zhì)量穩(wěn)定、使用壽命長等優(yōu)點(diǎn)。 http://www.jsjkyz.com/product/wdyb/biaomianbodianzu.html 二、表面鉑電阻主要技術(shù)指標(biāo)： ★ 分度號(hào):Pt100（R0=100Ω）★ 精度等級(jí): B級(jí)★ 熱響應(yīng)時(shí)間:τ0.5<15s★ 絕緣電阻: 外殼和探頭之間的絕緣電阻不小于100MΩ（100V直流）。★ 測(cè)溫范圍: -79～200℃公司網(wǎng)址：http://www.jsjkyz.com
貝士德公司在在國內(nèi)取得9項(xiàng)比表面相關(guān)專利,為國內(nèi)以多項(xiàng)專利技術(shù)取得09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),是通過ISO9001國際質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè)；為動(dòng)態(tài)色譜法比表面儀精度的創(chuàng)造者與保持者；是靜態(tài)容量法吸附儀性和智能化的代表；可用于電池材料比表面積分析,催化劑材料比表面積測(cè)試,炭黑總表面積及外表面積測(cè)定等,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.我公司自行研發(fā)生產(chǎn)的3H-2000系列全自動(dòng)氮吸附比表面積測(cè)試儀，為國內(nèi)知名品牌，2000年進(jìn)入市場(chǎng)，經(jīng)過多年的不斷研發(fā)創(chuàng)新，性能達(dá)到國內(nèi)領(lǐng)先，國際水平，其中多項(xiàng)性能指標(biāo)超越進(jìn)口儀器，是國內(nèi)高精度比表面儀的典范.我公司多年以來一直承擔(dān)中國科學(xué)院理化所、化學(xué)所、北航、北理工等科研單位的的比表面積測(cè)試工作并受到信賴和好評(píng)。儀器的技術(shù)和穩(wěn)定的性能及良好的售后服務(wù)，使得我們產(chǎn)品在客戶中享有很高的聲譽(yù)和信任。比表面國內(nèi)品牌,遠(yuǎn)銷海外.
3H-2000BET-A型比表面性能參數(shù):測(cè)試方法： 多功能性,可進(jìn)行BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、Langmuir單點(diǎn)法、固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法（計(jì)算外比表面儀積）、粒度估算、樣品BET吸附常數(shù)C等測(cè)試方法；測(cè)試精度： 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、Langmuir單點(diǎn)法、測(cè)試相對(duì)誤差小于±2%；固體標(biāo)樣參比法測(cè)試相對(duì)誤差小于±1.5%；測(cè)試范圍： 測(cè)試范圍廣,可測(cè)定比表面儀積在0.01m2/g以上的范圍內(nèi)的物質(zhì)，滿足所有粉體物質(zhì)及多孔物質(zhì)比表面儀積的測(cè)試；樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。測(cè)試時(shí)間： 測(cè)試時(shí)間:BET多點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品，測(cè)試速度平均每個(gè)樣品每分壓點(diǎn)測(cè)定時(shí)間約5分鐘,平均每個(gè)樣品總用時(shí)約30min；BET單點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品,測(cè)試速度平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約5分鐘；固體標(biāo)樣參比法,同時(shí)可測(cè)試3個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約6分鐘,僅為國外同類儀器測(cè)試時(shí)間的四分之一；以上測(cè)試時(shí)間不包含樣品吹掃凈化預(yù)處理時(shí)間.
3H-2000BET-A型比表面特點(diǎn)簡介：吹掃處理： 具有國內(nèi)一體式脫氣裝置（非分體式），解決了脫氣、測(cè)試一體化問題，實(shí)現(xiàn)了試樣原位處理，只需一次安裝，與空氣零接觸，了樣品預(yù)處理的性與性；風(fēng)熱助脫： 具有國內(nèi)程控風(fēng)熱助脫裝置，得到尖銳快速的脫附峰，減少背景誤差；定量管程控切換： 具有國內(nèi)程控六通閥標(biāo)定系統(tǒng)，動(dòng)作周期小于10毫秒；并且定量管體積程控切換；檢測(cè)器零漂抑制： 具有國內(nèi)檢測(cè)器恒溫系統(tǒng)，使檢測(cè)器10min的漂移試小于0.1mV,測(cè)試結(jié)果的性與穩(wěn)定性；濃度色譜法檢測(cè)： 具有國內(nèi)色譜法氮?dú)夥謮簷z測(cè)系統(tǒng)，相對(duì)流量法精度提高10倍，使氮?dú)鉂舛瓤刂凭群蜋z測(cè)精度均達(dá)到萬分之一，高穩(wěn)定性；粒度模型估算： 具有國內(nèi)粒度模型估算數(shù)據(jù)處理功能，并給出粒度估算報(bào)告；此功能能夠根據(jù)比表面儀積給出各個(gè)模型下的平均粒度，對(duì)研究者判斷顆粒形態(tài)起到指導(dǎo)作用；氣體凈化冷阱： 具有國內(nèi)氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個(gè)數(shù)量級(jí)以上；氣源開關(guān)保護(hù)： 具有國內(nèi)氣源開關(guān)指示與保護(hù)裝置，斷氣自動(dòng)斷電，避免斷氣帶電誤操作對(duì)檢測(cè)器的損害；吹掃定時(shí)： 具有國內(nèi)吹掃定時(shí)功能，定時(shí)精度1秒。完成后自動(dòng)切斷加熱電源，并聲音提示；溫度監(jiān)測(cè)： 液氮溫度可監(jiān)測(cè),消除普通工業(yè)液氮溫度差異影響,使用條件寬泛；室溫監(jiān)測(cè),消除環(huán)境溫度影響。
3H-2000BET-A型比表面儀器配件：測(cè)試配件： 標(biāo)配高純He、高純N2和氦氮混合氣體3瓶氣體,氣體使用時(shí)間更長,平均使用2年以上；貝士德樣品管,測(cè)試精度的同時(shí)使得樣品管裝樣方便并不局限于粉末樣品測(cè)試；儀器硬件： 硬件采用穩(wěn)定而耐用的部件，關(guān)鍵部件全部采用進(jìn)口配件，經(jīng)過嚴(yán)格檢測(cè)，適合頻繁測(cè)試；
3H-2000BET-A型比表面控制系統(tǒng)：控制系統(tǒng)： 吸附脫附過程全自動(dòng)程序控制,各個(gè)重要環(huán)節(jié)聲音提示；儀器運(yùn)行中操作人員進(jìn)行其他工作或離開也不用擔(dān)心耽誤實(shí)驗(yàn)；測(cè)試穩(wěn)定： 大屏幕5英寸LCD液晶顯示,各個(gè)機(jī)械部分動(dòng)作指示,使儀器工作狀態(tài)參數(shù)軟件、硬件同時(shí)顯示,即使軟件未打開也可掌握儀器狀態(tài)，使得儀器穩(wěn)定程度更高；測(cè)試氣路： 采用低溫氮吸附動(dòng)態(tài)色譜法，國內(nèi)外獨(dú)特并聯(lián)氣路，消除了環(huán)境溫度、濕度、大氣壓力等外界影響，無需抽真空，試驗(yàn)室條件要求相對(duì)寬松；數(shù)據(jù)處理： 軟件為自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，高采樣頻率100Hz，全自動(dòng)控制；具有功能完善的比表面儀數(shù)據(jù)處理能力；USB通訊接口；
3H-2000BET-A型比表面主要特征：優(yōu)勢(shì)特征簡列：
◆程控風(fēng)熱助脫系統(tǒng); 作用：降低背景噪聲，提高靈敏度 （專利名稱：具有吹風(fēng)加熱功能的比表面 專利號(hào):ZL200920110451.5） ◆一體式原位加熱吹掃裝置；并具有吹掃程序定時(shí)功能； 作用：提高預(yù)處理效率 （專利名稱：具有原位吹掃功能的比表面 專利號(hào):ZL200920110453.4） ◆氮?dú)夥謮荷V法檢測(cè)系統(tǒng)，檢測(cè)精度高于流量法10倍以上； 作用：提高分壓檢測(cè)精度 （專利名稱:氮?dú)鉂舛葯z測(cè)器 專利號(hào):ZL200920110455.3） ◆氣體凈化冷阱功能,使氣體純度提高10倍以上； 作用：降低氣體中雜質(zhì)影響 （專利名稱：氣體凈化冷阱及比表面 專利號(hào):ZL200920110450.0） ◆熱導(dǎo)池檢測(cè)器恒溫系統(tǒng); 作用：抑制零點(diǎn)漂移 （專利名稱：氣體恒溫裝置及比表面 專利號(hào):ZL200920110454.9） ◆程控六通閥標(biāo)定系統(tǒng)，定量管體積程控切換功能； 作用：定量管體積可根據(jù)需要選擇合適大小，提高標(biāo)定精度； ◆貝士德樣品管; 作用：大進(jìn)小出，方便裝樣 （專利名稱：比表面U型樣品管 專利號(hào):ZL200920110452.X） ◆儀器參數(shù)大屏幕5英寸LCD液晶顯示； 作用：軟硬件同時(shí)顯示，提高儀器度 ◆液氮溫度監(jiān)測(cè)功能； 作用：消除工業(yè)液氮溫度差異 ◆檢測(cè)器氣源開關(guān)指示與保護(hù)裝置； 作用：防止誤操作對(duì)儀器的影響 ◆粒度模型估算數(shù)據(jù)處理功能，并給出粒度估算報(bào)告；
3H-2000BET-A型比表面儀器售前售后服務(wù)：
◆ 售前服務(wù) 貝士德公司對(duì)客戶提供樣品免費(fèi)試測(cè)，以方便客戶采購前的調(diào)研比對(duì)，了解測(cè)試數(shù)據(jù)與國外儀器的差別；另外我們提供多次測(cè)試，以方便客戶評(píng)價(jià)儀器測(cè)試的重復(fù)性及穩(wěn)定性。如果欲采購客戶需要了解儀器在使用單位的使用情況和效果，我公司可以提供使用廠家電話咨詢了解。
◆ 售后服務(wù) 作為一個(gè)專業(yè)的比表面積分析儀及孔徑分布測(cè)試儀的生產(chǎn)廠家，貝士德公司在提供性能優(yōu)良，質(zhì)量的儀器的同時(shí)，還將提供周到的售后服務(wù)，解除用戶的后顧之憂。
1.安裝、調(diào)試、培訓(xùn)、運(yùn)輸：免費(fèi)為用戶安裝、調(diào)試、培訓(xùn)、運(yùn)輸并送貨上門。 2.保修期：在保修期內(nèi)免費(fèi)為用戶提供維修等服務(wù)。 3.軟件升級(jí)：為用戶免費(fèi)提供軟件升級(jí)服務(wù)，此項(xiàng)服務(wù)不受保修期限制。 4.零配件供應(yīng)：供應(yīng)零配件、易損件。 5.服務(wù)方式與時(shí)效： 熱線電話：全國統(tǒng)一咨詢電話：，公司的技術(shù)人員、銷售人員將隨時(shí)為您提供咨詢服務(wù)。 網(wǎng)站：公司網(wǎng)站提供公司介紹、產(chǎn)品介紹、軟件下載、資料下載、技術(shù)交流、技術(shù)講座、公司動(dòng)態(tài)等內(nèi)容。 上門服務(wù)：公司服務(wù)部的技術(shù)人員將根據(jù)用戶的請(qǐng)求隨時(shí)提供上門服務(wù)，從接到請(qǐng)求之時(shí)起一般不超過48小時(shí)到達(dá)，并實(shí)行定期或不定期回訪用戶制度。電子郵件：公司有專門人員處理和發(fā)送電子郵件，將隨時(shí)接受您發(fā)來的郵件，并為您發(fā)送如測(cè)試結(jié)果、儀器資料、軟件等信息。 信件：備有詳細(xì)公司及產(chǎn)品的介紹材料，我們將隨時(shí)通過EMS、DHL等方式郵寄到您的手中。
3H-2000BET-A型比表面發(fā)展歷程：3H-2000型系列比表面儀器的最早型號(hào)為HPDAI-88型動(dòng)態(tài)吸附儀，依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 10722-2003（原GB/T 10722-1999），該型號(hào)在1988年8月5日通過化工部科技局鑒定，技術(shù)鑒定證書編號(hào)為：【88】化科鑒定第48號(hào)。經(jīng)過改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多點(diǎn)法教學(xué)用3H-2000II型;2005年推出3H-2000III型比表面;2008年推出的全自動(dòng)智能運(yùn)行的3H-2000A型比表面,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-A型比表面;
需要采購比表面的生產(chǎn)廠家請(qǐng)聯(lián)系比表面專業(yè)生產(chǎn)廠家－－貝士德儀器科技（北京）有限公司銷售人員。
全自動(dòng)智能比表面及中孔微孔分布測(cè)試儀,BET法比表面儀,比表面積測(cè)試儀,氮吸附比表面積測(cè)定儀,比表面檢測(cè)儀,比表面測(cè)量儀,比表面積檢測(cè)儀,介孔微孔分布測(cè)定儀,比表面積測(cè)量儀,BET比表面積分析儀,比表面測(cè)定儀,比表面測(cè)試儀,BET比表面分析儀,孔容積測(cè)定儀,孔徑分析儀,孔徑檢測(cè)儀,孔徑測(cè)量儀,孔徑分布測(cè)定儀,孔隙度分析儀,介孔微孔分布分析儀,孔容積分析儀,孔徑分布檢測(cè)儀,孔徑分布測(cè)量儀,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率檢測(cè)儀,孔隙率測(cè)量儀,孔容測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)分析儀,孔徑測(cè)定儀,孔隙度檢測(cè)儀,孔隙度測(cè)量儀,平均孔徑測(cè)試儀,介孔微孔分布測(cè)量儀,孔結(jié)構(gòu)檢測(cè)儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)量儀,總孔體積分析儀,孔容積測(cè)試儀,孔體積分析儀,孔體積檢測(cè)儀,孔體積測(cè)量儀,平均孔徑測(cè)定儀,孔隙率分析儀,孔徑測(cè)試儀,孔徑分布測(cè)試儀,孔容檢測(cè)儀,孔容測(cè)量儀,總孔體積測(cè)定儀,介孔微孔分布檢測(cè)儀,孔體積測(cè)試儀,平均孔徑分析儀,總孔體積檢測(cè)儀,總孔體積測(cè)量儀,孔隙度測(cè)定儀,孔徑分布分析儀,平均孔徑檢測(cè)儀,平均孔徑測(cè)量儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)定儀,總孔體積測(cè)試儀,孔隙率測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)試儀,孔容分析儀,孔體積測(cè)定儀,孔隙度測(cè)試儀,孔容測(cè)定儀等是粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑（孔隙度）分布的檢測(cè)分析儀器,適用于吸附劑（如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等）;陶瓷原材料（如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等）;橡塑材料補(bǔ)強(qiáng)劑（如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等）;電池材料（如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅汞材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導(dǎo)電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質(zhì),負(fù)極活性物質(zhì),鋅粉等）;金屬氧化物（如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等）;磁性粉末材料（如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等）;納米金屬材料（如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等）;環(huán)保行業(yè)（如顏填料,柱填料,無機(jī)顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等）;無機(jī)粉體材料（如氧化鈦,鈦,二氧化鈦等）;納米材料（如納米粉體材料,納米陶瓷材料等）;稀土,煤炭（粉煤灰）,水泥（礦渣粉）,儲(chǔ)能材料,催化劑（硅藻土）,凈化劑,助濾劑,土壤,黏土,石油斷裂劑,發(fā)光稀土粉末材料（熒光粉）,粉體材料,粉末材料,超細(xì)纖維,多孔織物,復(fù)合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測(cè)分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.
比表面專業(yè)制造商貝士德儀器,比表面不僅具有國內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平，更有良好的售后服務(wù)和的解決方案,歡迎來電洽談.全國統(tǒng)一咨詢電話：